本案例建设针对MOSFET和IGBT的可靠性及失效分析系统，其中AEC-Q101是针对汽车领域应用中分立半导体器件的认证测试标准，AQG324是汽车用IGBT模块的验证规范。两者均包含功率循环测试等可靠性测试方法，用于评估功率半导体器件在实际应用中的性能与寿命。